石川県次世代産業育成講座・新技術セミナー「電界放出型電子線マイクロアナライザとイオンビームを利用した試料作製による最新の材料評価事例」（Webセミナー）

石川県次世代産業育成講座・新技術セミナー
「電界放出型電子線マイクロアナライザとイオンビームを利用した試料作製による最新の材料評価事例」（Webセミナー）

　電界放出型電子線マイクロアナライザ（FE-EPMA）は、材料の微小な領域を高感度で成分分析可能です。そのため、金属、電子材料、セラミック材料などを対象に、新材料開発やトラブル解析など多くの場面で実績を得てきました。一方、より高精度に試料断面を成分分析するには試料準備が重要となります。それには、イオンビームを用いた試料作製装置が有効で、経験を必要とする他の手法に比べ、質の良い試料を短時間で得ることができます。

　本セミナーでは、FE-EPMAによる高分解能、高感度分析の事例と、断面試料作製装置ならではの試料の作製事例を紹介いたします。
　
日時　
令和3年6月25日(金) 13時30分～15時00分

形式
ZoomによるWeb配信【お申し込みされたe-mailにURLを送信します】

講師
日本電子株式会社　SA事業ユニット　脇元　理恵　氏

　　　　　　　　　　　　　EP事業ユニット　長谷部　裕治　氏

受講料
無料

定員
20名

担当
石川県工業試験場　機械金属部　主任研究員　藤井　要

石川県次世代産業育成講座・新技術セミナー　受講申込
「電界放出型電子線マイクロアナライザとイオンビームを利用した試料作製による最新の材料評価事例」（Webセミナー）
日時 ： 令和 ３年６月２５日（金）　13時30分～15時00分
形式 ： ZoomによるWeb配信【お申し込みされたe-mailにURLを送信します】
「電界放出型電子線マイクロアナライザとイオンビームを利用した試料作製による最新の材料評価事例」
申込メールは　seminar@irii.jp
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