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石川県次世代産業育成講座・新技術セミナー「IoT・5G向け実装基板のHALT(高加速限界試験)による信頼性向上技術の動向-バウンダリスキャン(JTAG)テストとの併用-」(Webセミナー)

印刷用ページを表示する更新日:2022年1月7日更新

説明会・相談会

開催日 2022年2月7日
開催時間 13時30分から15時00分
開催場所 WebexによるWeb配信
主催者 (公財)石川県産業創出支援機構、協力:石川県工業試験場
料金 無料
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添付ファイル

開催概要

石川県次世代産業育成講座・新技術セミナー
「IoT・5G向け実装基板のHALT(高加速限界試験)による信頼性向上技術の動向-バウンダリスキャン(JTAG)テストとの併用-」(Webセミナー)

 電子機器の小型化と高性能化に伴い、BGA部品のパッケージは、これまでの1.27mmボールピッチから、0.5mmへと狭くなっています。これに伴いBGAパッケージが実装された基板の不良が増加する傾向にあります。しかし、従来のプローブを端子に当てるICTや外観検査装置で実装不良を検出できない場合、断面観察等が必要となり、時間を要してしまうことが課題です。そこで高密度実装の信頼性向上のために考案された新しいテスト手法であるJTAG(Joiny Test Action Group)による信頼性評価事例について紹介します。多数ご参加くださいますようお願いいたします。


 日時 
令和4年2月7日(月) 13時30分~15時00分

 形式
WebexによるWeb配信【お申し込みされたe-mailにURLを送信します】

 講師

アンドールシステムサポート株式会社

 谷口 正純 氏

エスペック株式会社

 今堀 翔也 氏

 受講料
無料

 定員
20名

 担当
石川県工業試験場 電子情報部 専門研究員 的場 彰成

申し込み方法

申し込みフォーム、または、備考欄の事項をFAXまたはeメールでお申し込みください

申込締切

令和 4年1月31日(月)(定員になり次第締切ります)

備考

石川県次世代産業育成講座・新技術セミナー 受講申込
「IoT・5G向け実装基板のHALT(高加速限界試験)による信頼性向上技術の動向-バウンダリスキャン(JTAG)テストとの併用-」(Webセミナー)
日時 : 令和 4年2月7日(月) 13時30分~15時00分
形式 : WebexによるWeb配信【お申し込みされたe-mailにURLを送信します】
「IoT・5G向け実装基板のHALT(高加速限界試験)による信頼性向上技術の動向-バウンダリスキャン(JTAG)テストとの併用-」
申込メールは seminar@irii.jp

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お問合せ

機関・企業名 (公財)石川県産業創出支援機構
部署
プロジェクト推進部
担当 次世代講座担当 米澤、松元
郵便番号 920-8203
住所 石川県金沢市鞍月2-1(石川県工業試験場 企画指導部内)
TEL 076-267-8081
FAX 076-267-8090
E-mail seminar@irii.jp